主  讲  人：  韩银和
时      间：  2015年10月12日，下午14：00点
地      点：  北二区会议室
主 办 单 位： 信息工程学院

主讲人介绍：
中科院计算所研究员。他主要的研究领域是集成电路设计与测试，计算机体系结构。在这些领域发表了70多篇学术论文，包含HPCA’12, ISCA’11, ISCA’10, DAC’11’13’15等领域重要会议论文。韩银和获得过2012年国家技术发明二等奖、2008年全国百篇优博提名(奖)、2007年计算机学会优博、2003年亚洲测试会议最佳论文奖等，是多个计算机体系结构和芯片设计领域重要会议如DATE’15、PACT'14、HPCA'13的程序委员会委员。中国计算机学会青年计算机科技论坛(CCF YOCSEF)副主席(2014-2016)，计算机学会容错专委秘书长(2016-2019)。他获得了基金委优秀青年科学基金的资助(2016-2018)。

内 容 介 绍：
在航天等特殊应用环境中，如何保障芯片在场(轨)正确运行是芯片研制中的首要问题，而测试和容错设计与是保障芯片稳定可靠运行的主要技术手段，这两项技术解决不好可能会导致灾难性事故，如2011年俄罗斯火卫-土壤星际站发射失败，其首要技术原因就是使用了不合格芯片而未能检出。本报告将介绍我们在集成电路测试和容错设计方面的工作。测试方面将介绍在测试压缩和时序故障在线检测方面取得的成果，测试压缩有效缓解了使用低速测试设备测试高速芯片的“频率墙”难题。容错设计则介绍我们在了基于自测试-自诊断-自恢复的自恢复容错技术进展，该技术提出了针对处理器时序故障容忍的一系列方法，能将容错开销从多模冗余的倍数级降低到与原系统相当。